金屬 / 溶液界面不均一性對金屬腐蝕電極行爲的影響是至關重要的，有時甚至可起決定性的作用。傳統電化學方法均是以整個電極爲研究對象，以電信號爲激勵和檢測手段，通過解釋而獲得有關腐蝕電極過程間接、統計和麪積平均的研究信息。因此難以實現對錶面不同位置的腐蝕電化學特性的定域或掃描測量 , 也不能獲得有關微區形貌結構和化學微環境信息 ,從而限制了對許多複雜腐蝕電化學體系的深入研究。發展具有空間分辨度的腐蝕電化學新技術，研究金屬表面或金屬/溶液界面的電化學不均一性，探明腐蝕電化學過程的定域效應及動力學規律，有利於深入揭示覆雜電化學體系的本質和機制，推進電化學科學進入空間分辨和分子水平的研究，已成爲當前國際上一個重要研究熱點和趨勢。
隨着科學技術的進步 , 已發展了不少具有空間分辨的譜學顯微技術 ,爲金屬局部腐蝕的深入研究提供了強有力的工具。非現場空間分辨的譜學技術主要有掃描電鏡、X- 射線能量色散分析、掃描 Auger 能譜、場離子顯微鏡、原子探針及質子探針等，通常要求樣品必須在高真空條件下測量 , 因此難以研究局部腐蝕的動態過程。 現場空間分辨的譜學技術 , 如掃描探針顯微鏡、掃描 Raman 光譜及掃描紅外光譜等 , 可在電化學現場測量腐蝕電極表面空間形貌、化學物種、形態及其取向分佈等 , 從原子或分子水平研究局部腐蝕的動態過程。現場空間分辨譜學技術還有掃描探針顯微技術 （SPM） 主要包括掃描隧道顯微鏡 （STM） 和原子力顯微鏡 （AFM）、掃描橢圓術、掃描光電流譜、掃描 Kelvin 探針、掃描電化學顯微鏡（SECM）及掃描微電極技術等 , 可直接研究腐蝕過程表面鈍化膜光電特性分佈、電化學不均一性及局部腐蝕行爲。
爲了從高空間分辨水平認識組分—結構—化學活性之間的綜合信息的相互關聯，國際上已開始探索研製各種原位探針的聯用技術，試圖同時測量微區形貌結構、化學組分及腐蝕電化學特性，這些極具創新性的複合型掃描微探針聯用技術的研究在國際上雖然還只是剛剛起步，但已受到國際間極大的興趣和重視。
掃描微電極技術（SMET）是通過測量金屬 / 溶液界面電場分佈直接原位檢測金屬表面或金屬 / 溶液界面的電化學不均一性 , 指示腐蝕電極表面二維方向的微區電化學活性點位置和活性大小，跟蹤活性點變化過程及影響因素。掃描微電極技術可用於研究多種形式的局部腐蝕，如點腐蝕的發生、發展過程機理，縫隙腐蝕的消長，應力腐蝕開裂的前驅電位效應，焊縫腐蝕行爲，緩蝕機理及材料耐局部腐蝕的評測等。 近年來發展複合型掃描微電極探針，譬如 SMET/SPM 複合探針、多功能掃描微參比電極、複合型掃描微 Cl - 電極、複合型掃描微 pH 電極等，可獲得原位測量金屬 / 溶液界面有關局部腐蝕過程的局部區域的微觀形貌、腐蝕電化學活性、微區化學環境等更多重要信息的二維分佈 , 進而可擴展研究體系，同時還可大幅度提高測量分辨度，有利於直接跟蹤金屬 / 溶液界面微化學環境的不均一性及其與材料表面局部腐蝕破壞過程的內在關係 , 綜合研究金屬局部腐蝕破壞過程機理。
